短期課程：半導體測試的自動控制系統
舉辦時間：民國104年11月28日 (六) 9:00 - 17:00 (8:40 – 9:00報到)
舉辦地點：元智大學一館 R1309
講員：日月光半導體 李恕明處長
課程大綱：
半導體的晶圓測試及最終測試的過程中，如何做好品質管制、降低成本、增進良率是重要的課題。
藉著資訊技術的進步，過去採用人工管理及監控的方式已經逐漸由自動化系統來取代，近年來更藉著大
數據的使用，大幅的提升良率。本次短期課程將涵蓋以下主題：
1. 晶圓測試及最終測試製程簡介
2. 自動化控制系統的發展
3. 統計製程管制
4. 良率的提升工具
指導單位：教育部顧問室「智慧電子整合性人才培育計畫」
承辦單位：元智大學資訊工程學系
聯絡人：劉一宇 03-4638800 ext.2377